日本HIOKI日置 LCR測(cè)試儀電橋主機(jī)+測(cè)試線

日本HIOKI日置 LCR測(cè)試儀電橋主機(jī)+測(cè)試線
● 基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。
● 內(nèi)置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測(cè)試時(shí)間
本產(chǎn)品不標(biāo)配測(cè)量探頭和測(cè)試夾具。請(qǐng)結(jié)合應(yīng)用單獨(dú)選擇和購買合適的測(cè)量探頭和測(cè)試夾具。所有探頭均帶有一個(gè)1.

產(chǎn)品型號(hào)：IM3523
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2024-08-09
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產(chǎn)品詳情

日本HIOKI日置 LCR測(cè)試儀電橋主機(jī)+測(cè)試線

● 基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。
● 內(nèi)置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測(cè)試時(shí)間

本產(chǎn)品不標(biāo)配測(cè)量探頭和測(cè)試夾具。請(qǐng)結(jié)合應(yīng)用單獨(dú)選擇和購買合適的測(cè)量探頭和測(cè)試夾具。所有探頭均帶有一個(gè)1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接：交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637，不需要硬件控制器。

HIOKI日置電橋主機(jī)IM3523+9140-10測(cè)試線--2.jpg

日本HIOKI日置 LCR測(cè)試儀電橋主機(jī)+測(cè)試線

基本參數(shù)

測(cè)量模式	LCR,連續(xù)測(cè)試
測(cè)量參數(shù)	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
測(cè)量量程	100mΩ～100MΩ,10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義)
可顯示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ～9.99999G [單位])(*為最高分辯率時(shí)的顯示位數(shù)）只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
測(cè)量頻率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
測(cè)量信號(hào)電平	正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
輸出阻抗	正常模式：100Ω
顯示	單色LCD
測(cè)量時(shí)間	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比較器，分類測(cè)量(BIN功能)，面板讀取/保存、存儲(chǔ)功能
接口	EXT I/O(處理器)，USB通信(高速) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一
電源	100～240V AC，50/60Hz，最大50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件	電源線×1，使用說明書×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1

LCR測(cè)試儀IM3523測(cè)量方法：連續(xù)測(cè)量不同條件
在電容的測(cè)量條件中希望以120Hz測(cè)量C-D。希望以100kHz測(cè)量ESR。這時(shí)，使用1臺(tái)告訴連續(xù)測(cè)量不同條件。
LCR測(cè)試儀IM3523測(cè)量方法：順暢的進(jìn)行生產(chǎn)線的設(shè)置更改的面板讀取功能
為了使用1臺(tái)LCR測(cè)試儀測(cè)量多種產(chǎn)品，要求高效率的更改設(shè)置。
IM3523的面板保存功能更，最多保存60組測(cè)量條件，還能保存128個(gè)開路/短路補(bǔ)償和線長(zhǎng)補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測(cè)量條件。除了手動(dòng)讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號(hào)的讀取，因此能縮短構(gòu)筑自動(dòng)化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。
可靠的產(chǎn)線檢查：接觸檢查功能
檢查4端子測(cè)量時(shí)樣品間的接觸不良。
測(cè)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，如果在所設(shè)置的閾值以上時(shí)則顯示錯(cuò)誤。
2MHz阻抗的4ch測(cè)量方案
精度計(jì)算軟件
僅需輸入數(shù)值即可輕松計(jì)算精度。
LCR測(cè)試儀精度計(jì)算軟件請(qǐng)點(diǎn)擊